國科會今天(19日)在新竹的國研院半導體中心，發布「原子針尖斷層影像儀」（APT）研究成果，可提供高解析度、3D材料分析，突破半導體解析侷限，堪稱半導體與材料的原子級電腦斷層分析，不僅對半導體產業有所助益，更可擴展到多種前瞻應用材料。
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